基于对锡掺杂三氧化铟（Ｓｎ－ｄｏｐｅｄ Ｉｎ２Ｏ３，简称ＩＴＯ）和铝掺杂氧化锌（Ａｌ－ｄｏｐｅｄ ＺｎＯ，简称ＺＡＯ）薄膜退火前后ＸＲＤ数据的分析，研究了薄膜晶格常数畸变的原因，同时讨论了ＩＴＯ和ＺＡＯ薄膜的导电机......